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复旦团队在《科学》发表室温单电子非易失存储器件
复旦成功实现存储密度理论极限
AI 导读
复旦大学研究团队在《科学》发表成果,利用二维材料原子级厚度与自对准平面裁剪方案,构建共面漏极-沟道-源极归壹结构,首次在室温下观测到单电子非易失性存储行为。器件栅长约20纳米,27℃下阈值电压随单电子进出呈现约0.5伏阶梯式跃迁,单电子状态在5000秒直接测量中保持稳定;仿真显示边缘寄生电容占比压到约2.4%。
推荐理由
原文对比了DRAM与3D NAND的电子数需求,读者可据此理解单电子存储的密度意义与工程距离。
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