研究者提出SIM-fdFLIM超分辨荧光寿命成像方法

研究团队提出结构光照明频域荧光寿命成像方法 SIM-fdFLIM，结合商用双通道频域 FLIM 探测与保比重建，实现约 100 nm 空间分辨率的寿命成像，并在 56 × 56 µm² 视场内以 2.8 Hz 进行活细胞成像。 在代表性荧光标准样品测试中，研究者称其 RIVE 重建将寿命标准差较未用 RIVE 的 SIM-fdFLIM 降低约三倍，同时保持与标定宽场 fdFLIM 的平均寿命一致。在活细胞实验中，该方法分辨出线粒体嵴尺度的寿命异质性、线粒体间功能动态、纳米尺度脂质环境差异及对扰动敏感的细胞器接触特征。

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还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。